Fotònica del silici
La fotònica del silici és l'estudi i l'aplicació de sistemes fotònics que utilitzen el silici com a mitjà òptic.[1][2][3][4][5] El silici normalment es modela amb una precisió submicromètrica, en components microfotònics.[4] Aquests operen a l'infraroig, més habitualment a la longitud d'ona d'1,55 micròmetres utilitzada per la majoria dels sistemes de telecomunicacions de fibra òptica.[6] El silici normalment es troba a la part superior d'una capa de sílice en el que (per analogia amb una construcció similar en microelectrònica) es coneix com a silici sobre aïllant (SOI).[4] [5]
Els dispositius fotònics de silici es poden fabricar mitjançant tècniques de fabricació de semiconductors existents i, com que el silici ja s'utilitza com a substrat per a la majoria de circuits integrats, és possible crear dispositius híbrids en els quals els components òptics i electrònics s'integren en un únic microxip.[7] En conseqüència, la fotònica de silici està sent investigada activament per molts fabricants d'electrònica, com IBM i Intel, així com per grups de recerca acadèmics, com a mitjà per seguir el camí amb la Llei de Moore, mitjançant l'ús d'interconnexions òptiques per proporcionar una transferència de dades més ràpida tant entre els microxips com dins de ells.[8][9][10]
La propagació de la llum a través dels dispositius de silici es regeix per una sèrie de fenòmens òptics no lineals que inclouen l'efecte Kerr, l'efecte Raman, l'absorció de dos fotons i les interaccions entre fotons i portadors de càrrega lliure.[11] La presència de no linealitat és d'importància fonamental, ja que permet que la llum interaccioni amb la llum,[12] permetent així aplicacions com la conversió de longituds d'ona i l'encaminament del senyal totalment òptic, a més de la transmissió passiva de la llum.
Les guies d'ona de silici també són de gran interès acadèmic, a causa de les seves propietats guiadores úniques, es poden utilitzar per a comunicacions, interconnexions, biosensors,[13][14] i ofereixen la possibilitat de suportar fenòmens òptics no lineals exòtics com la propagació de solitons.[15][16][17]
Aplicacions; Comunicacions òptiques, Encaminadors òptics i processadors de senyal, Telecomunicacions de llarg abast mitjançant fotònica de silici, Visualitzacions de camp de llum.
Referències
[modifica]- ↑ Soref, Richard A.; Lorenzo, Joseph P. IEEE Journal of Quantum Electronics, 22, 6, 1986, pàg. 873–879. Bibcode: 1986IJQE...22..873S. DOI: 10.1109/JQE.1986.1073057.
- ↑ Jalali, Bahram; Fathpour, Sasan Journal of Lightwave Technology, 24, 12, 2006, pàg. 4600–4615. Bibcode: 2006JLwT...24.4600J. DOI: 10.1109/JLT.2006.885782.
- ↑ Almeida, V. R.; Barrios, C. A.; Panepucci, R. R.; Lipson, M Nature, 431, 7012, 2004, pàg. 1081-1084. Bibcode: 2004Natur.431.1081A. DOI: 10.1038/nature02921. PMID: 15510144.
- ↑ 4,0 4,1 4,2 Silicon photonics (en anglès). Springer, 2004. ISBN 3-540-21022-9.
- ↑ 5,0 5,1 Silicon photonics: an introduction (en anglès). John Wiley and Sons, 2004. ISBN 0-470-87034-6.
- ↑ Lipson, Michal Journal of Lightwave Technology, 23, 12, 2005, pàg. 4222–4238. Bibcode: 2005JLwT...23.4222L. DOI: 10.1109/JLT.2005.858225.
- ↑ Lipson, Michal Journal of Lightwave Technology, 23, 12, 2005, pàg. 4222–4238. Bibcode: 2005JLwT...23.4222L. DOI: 10.1109/JLT.2005.858225.
- ↑ «Silicon Integrated Nanophotonics» (en anglès). IBM Research. Arxivat de l'original el 9 d’agost 2009. [Consulta: 14 juliol 2009].
- ↑ «Silicon Photonics» (en anglès). Intel. [Consulta: 14 juliol 2009].
- ↑ SPIE SPIE Newsroom, 05-03-2015. DOI: 10.1117/2.3201503.15.
- ↑ Dekker, R; Usechak, N; Först, M; Driessen, A Journal of Physics D, 40, 14, 2008, pàg. R249–R271. Bibcode: 2007JPhD...40..249D. DOI: 10.1088/0022-3727/40/14/r01.
- ↑ Butcher, Paul N.. The elements of nonlinear optics. Cambridge University Press, 1991. ISBN 0-521-42424-0.
- ↑ Talebi Fard, Sahba. «Label-free silicon photonic biosensors for use in clinical diagnostics». A: Kubby. Silicon Photonics VIII (en anglès). 8629, 2013, p. 862909. DOI 10.1117/12.2005832.
- ↑ Donzella, Valentina; Sherwali, Ahmed; Flueckiger, Jonas; Grist, Samantha M.; Fard, Sahba Talebi Optics Express, 23, 4, 2015, pàg. 4791–803. Bibcode: 2015OExpr..23.4791D. DOI: 10.1364/OE.23.004791. PMID: 25836514 [Consulta: free].
- ↑ Hsieh, I.-Wei; Chen, Xiaogang; Dadap, Jerry I.; Panoiu, Nicolae C.; Osgood, Richard M. Optics Express, 14, 25, 2006, pàg. 12380–12387. Bibcode: 2006OExpr..1412380H. DOI: 10.1364/OE.14.012380. PMID: 19529669 [Consulta: free].
- ↑ Zhang, Jidong; Lin, Qiang; Piredda, Giovanni; Boyd, Robert W.; Agrawal, Govind P. Optics Express, 15, 12, 2007, pàg. 7682–7688. Bibcode: 2007OExpr..15.7682Z. DOI: 10.1364/OE.15.007682. PMID: 19547096 [Consulta: free].
- ↑ Ding, W.; Benton, C.; Gorbach, A. V.; Wadsworth, W. J.; Knight, J. C. Optics Express, 16, 5, 2008, pàg. 3310–3319. Bibcode: 2008OExpr..16.3310D. DOI: 10.1364/OE.16.003310. PMID: 18542420 [Consulta: free].